VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的高端研究級儀器。其獨具創(chuàng)新的光學設計使得極為強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1）?到遠紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、極高的光譜和時間分辨率以及卓越的靈活性。多功能VERTEX 80/80v?系統(tǒng)能夠通過其尖端的技術，為所有高端研究應用提供完美的解決方案。

研究與開發(fā)

• 用于幅度/相位調制光譜的連續(xù)和步進掃描技術

• 用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術（步進掃描?/?快速掃描?/?交叉掃描時間分辨光譜）

• 對周期性有序微觀材料（即超材料）進行表征

• 用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜

• 用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化

• 酶催化實驗的停流方法

• 外接超高真空測量腔室

• 用于電極表面和電解質原位研究的FTIR?光譜電化學

制藥

• 測定分子的絕對構（VCD）

• 通過熱分析對藥物產品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進行表征?(TGA-FTIR)

• 遠紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型

聚合物與化學

• 遠紅外譜區(qū)識別聚合物復合材料中的無機填料

• 聚合物動態(tài)和流變學研究

• 測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程?(TGA-FTIR)

• 反應監(jiān)測和反應控制 （中紅外光纖探頭）

• 識別無機礦物質和顏料

表面分析

• 薄膜和單分子層檢測與表征

• 結合偏振調制進行表面分析?(PM-IRRAS)

材料科學

• 光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征

• 通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質和深度剖析

• 材料的發(fā)射行為表征

半導體

• 硅晶圓中氧和碳含量的測定

• 淺能級雜質的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進行質量控制